<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-id pub-id-type="doi">10.24151/1561-5405-2025-30-4-487-496</article-id><article-id pub-id-type="risc">EFNACX</article-id><article-id pub-id-type="udk">004.942.032.26</article-id><article-categories><subj-group><subject>Информационно-коммуникационные технологии</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Predictive modeling of defects in microelectronics productsbased on neural network ensembles</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Прогностическое моделирование дефектов в изделияхмикроэлектроники на основе нейросетевых ансамблей</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Шевнина Юлия Сергеевна</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Шевнина</surname><given-names>Юлия Сергеевна</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Shevnina</surname><given-names>Yulia S.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Yulia S. Shevnina</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Хвостик Павел Михайлович</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Хвостик</surname><given-names>Павел Михайлович</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Khvostik</surname><given-names>Pavel M.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Pavel M. Khvostik</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Зайцев Владимир Владимирович</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Зайцев</surname><given-names>Владимир Владимирович</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Zaitsev</surname><given-names>Vladimir V.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Vladimir V. Zaitsev</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Винокуров Алексей Александрович</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Винокуров</surname><given-names>Алексей Александрович</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Vinokurov</surname><given-names>Alexey A.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Alexey A. Vinokurov</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Портнов Евгений Михайлович</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Портнов</surname><given-names>Евгений Михайлович</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Portnov</surname><given-names>Evgeniy M.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Evgeniy M. Portnov</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru">National Research University of Electronic Technology (Russia, 124498, Moscow, Zelenograd, Shokin sq., 1)</aff></contrib-group><pub-date iso-8601-date="2025-09-01" date-type="pub" publication-format="electronic"><day>01</day><month>09</month><year>2025</year></pub-date><volume>Том. 30 №4</volume><issue>4</issue><fpage>487</fpage><lpage>496</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/en/issues/Том 30 №4/prognosticheskoe_modelirovanie_defektov_v_izdeliyakhmikroelektroniki_na_osnove_neyrosetevykh_ansambl/</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>In automated production process control, the problematic situation is the lack of effective methods for data processing considering low quality of materials, improper connection of components and other process non-conformances, as well as equipment imperfection, its depreciation and incorrect settings, errors in the design of microcircuits and other components of microelectronics. In this work, the approaches to data processing in process control are considered that have regard to relationships between various local factors of production state, including those leading to defects in manufactured products. Particular attention is paid to the intelligent analysis of accumulated data on the state of the external production environment, actuators and mechanisms when a defect occurs and is detected. A mathematical model of a defect with an ordered set of its characteristics and their values is given. An ensemble of neural networks has been used to process the data of the output quality control of products, which allows building prognostic models of production state and determining critical factors that affect the global production technological processes. Criteria are given for determining the level of identified factor’s effect on production state. The resulting prognostic model allows determining the standards for measuring the state and forming a control action for its correction.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>При управлении автоматизированным производством проблемой является отсутствие эффективных методов обработки данных, учитывающих низкое качество материалов, неправильное соединение компонентов и другие нарушения технологических процессов, а также несовершенство оборудования, его износ и неверные настройки, ошибки в проектировании микросхем и компонентов микроэлектроники. В работе рассмотрены подходы к обработке данных при управлении технологическими процессами, позволяющие учитывать взаимосвязи между различными локальными факторами состояния производства, в том числе приводящими к дефектам выпускаемых изделий. Особое внимание уделено интеллектуальному анализу накопленных данных о состоянии внешней производственной среды, исполнительных узлов и механизмов при возникновении и обнаружении дефекта. Дана математическая модель дефекта с упорядоченным набором его характеристик и их значений. Для обработки данных выходного контроля качества изделий использован ансамбль нейронных сетей, что позволяет строить прогностические модели состояния производства и определять критические факторы, влияющие на глобальные технологические процессы. Приведены критерии для определения степени влияния выявленного фактора на состояние производства. Полученная прогностическая модель позволяет определять стандарты измерения состояния производства и формировать управляющее воздействие для его корректировки. </p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>output quality control</kwd><kwd>process control</kwd><kwd>prognostic modeling</kwd><kwd>production state</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>output quality control</kwd><kwd>process control</kwd><kwd>prognostic modeling</kwd><kwd>production state</kwd></kwd-group><funding-group><funding-statement xml:lang="ru">работа выполнена при финансовой поддержке Российского научного фонда (проект № 24-29-00530).</funding-statement><funding-statement xml:lang="ru">the work has been supported by the Russian Science Foundation (project no. 24-29-00530).</funding-statement></funding-group></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Круглов М. Г., Юрин Д. С. Контроль качества в современных условиях. Изв. ТулГУ. Техническиенауки. 2023;(7):193–199. https://doi.org/10.24412/2071-6168-2023-7-193-194. EDN: JMFOYC.</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>3.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Kruglov M. G., Yurin D. S. Quality control in modern conditions. Izv.TulGU. Tekhnicheskie nauki = Proceedings of the TSU. Technical Sciences.2023;(7):193–199. (InRuss.). https://doi.org/10.24412/2071-6168-2023-7-193-194</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>2.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Скрипко Л. Е. Становление взглядов на менеджмент качества. Вестник Санкт-Петербургского университета. Менеджмент.2022;21(3):395–428. https://doi.org/10.21638/11701/spbu08.2022.304. EDN: AOKOVM.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>5.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Skripko L. Е. Adoption of views on quality management.Vestnik Sankt-Peterburgskogo universiteta.Menedzhment = Vestnik of Saint Petersburg University. Management. 2022;21(3):395–428. (InRuss.). http://doi.org/10.21638/11701/spbu08.2022.304</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>3.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Данилевич С. Б., Третьяк В. В. Выходной контроль: влияние индекса качества продукции на риски принятия ошибочных решений. Компетентность. 2022;(4):32–35. https://doi.org/10.24412/1993-8780-2022-4-32-35. EDN: HPAZVE.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>7.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Danilevich S. B., Tret’yak V. V. Final control: Influence of the product quality index on the risks of making erroneous decisions. Kompetentnost’ = Competency (Russia). 2022;(4):32–35. (InRuss.). https://doi.org/10.24412/1993-8780-2022-4-32-35</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>4.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Смирнов К. К. Автоматизация операций прослеживаемости качества интегральных структур при производстве сверхбольших интегральных схем. ТрудыМАИ. 2017;(95):25. EDN: ZHNYDR.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>9.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Smirnov K. Automation of operations of traceability of integrated structures quality in the manufacture of VLSIs.TrudyMAI. 2017;(95):25. (InRuss.).</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>5.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Емельянова М. Г., Смаилова С. С., Бакланова О. Е. Обнаружение поверхностных дефектов сварных соединений при визуальном контроле методами машинного зрения. Компьютернаяоптика. 2023;47(1):112–118. https://doi.org/10.18287/2412-6179-CO-1137. EDN: UFHBJU.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>11.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Yemelyanova M. G., Smailova S. S., Baklanova O. E. Detection of surface defects in welded joints during visual inspection using machine vision methods. Komp’yuternaya optika = Computer Optics. 2023;47(1):112–118. (In Russ.). https://doi.org/10.18287/2412-6179-CO-1137</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>6.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Прыткова Е. А., Давыдов В. М. Анализ применения иерархических нейросетевых методов в контроле качества. Вестник МГТУ им. Г. И. Носова. 2023;21(1):74–81. https://doi.org/10.18503/1995-2732-2023-21-1-74-81. EDN: GJGYLJ.</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>13.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Prytkova E. A., Davydov V. M. Analysis of the use of hierarchical neural network methods in quality control. Vestnik MGTU im. G. I. Nosova = Vestnik of Nosov Magnitogorsk State Technical University.2023;21(1):74–81. (InRuss.). https://doi.org/10.18503/1995-2732-2023-21-1-74-81</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>7.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Шевнина Ю. С. Метод оценки состояния нелинейной системы на основе логического анализа данных. Изв. вузов. Электроника. 2022;27(3):407–415. https://doi.org/10.24151/1561-5405-2022-27-3-407-415. EDN: BZRDEB.</mixed-citation></ref><ref id="B14"><label>15.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Shevnina Ju. S. Method for estimating the state of a nonlinear system based on logical data analysis. Izv.vuzov. Elektronika = Proc. Univ. Electronics. 2022;27(3):407–415. (In Russ.). https://doi.org/10.24151/1561-5405-2022-27-3-407-415</mixed-citation></ref><ref id="B15"><label>8.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Шевнина Ю. С., Гагарина Л. Г., Конюхов Е. В., Харитонова А. Д. Метод кластерного анализа гетерогенных данных с использованием положений нечеткой логики. Изв. вузов. Электроника. 2023;28(4):537–546. https://doi.org/10.24151/1561-5405-2023-28-4-537-546. EDN: AVWMTN.</mixed-citation></ref><ref id="B16"><label>17.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Shevnina Yu. S., Gagarina L. G., Konyukhov E. V., Kharitonova A. D. Method of cluster analysis of heterogeneous data using the provisions of fuzzy logic. Izv.vuzov. Elektronika = Proc. Univ. Electronics. 2023;28(4):537–546. (In Russ.). https://doi.org/10.24151/1561-5405-2023-28-4-537-546</mixed-citation></ref><ref id="B17"><label>9.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Рутковская Д., Пилиньский М., Рутковский Л. Нейронные сети, генетические алгоритмы и нечеткие системы. Пер. с пол. И. Д. Рудинского. М.: Горячая линия – Телеком; 2008. 383 с.</mixed-citation></ref><ref id="B18"><label>19.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Rutkowska D., Pilinski M., Rutkowski L. Neural networks, genetic algorithms and fuzzy systems. Moscow: Goryachaya liniya – Telekom Publ.; 2008. 383 p. (In Russ.).</mixed-citation></ref><ref id="B19"><label>10.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Gallinucci E., Golfarelli M., Rizzi S., Abelló A., Romero O. Interactive multidimensional modeling of linked data for exploratory OLAP. Information Systems. 2018;77:86–104. https://doi.org/10.1016/j.is.2018.06.004</mixed-citation></ref><ref id="B20"><label>11.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Cheraghalipour A., Hajiaghaei-Keshteli M., Paydar M. M. Tree growth algorithm (TGA): A novel approach for solving optimization problems. Eng. Appl. Artif.Intell.2018;72:393–414. https://doi.org/10.1016/j.engappai.2018.04.021</mixed-citation></ref></ref-list>    
  </back>
</article>
